台湾・国立交通大学のYu-Miin Sheu助教らとの共同研究成果が、ACS Applied Electronic Materials 誌に掲載されました（2020.7.28）

Gowoon Kim*, Bin Feng, Yu-Miin Sheu, Hai Jun Cho, Yuichi Ikuhara, Hiromichi Ohta*, “Coexistence of high electron conduction and low heat conduction in tungsten oxide epitaxial films with 1D atomic defect tunnels”, ACS Appl. Electron. Mater. 2, 2507-2513 (2020). (July 28, 2020) (DOI:10.1021/acsaelm.0c00428)