六方晶酸化タングステン薄膜の繰り返し酸化・還元に関する論文がACS Applied Electronic Materials誌に掲載されました。

Gowoon Kim*, Hai Jun Cho, and Hiromichi Ohta*, “Reversible Redox Control of Optoelectronic Properties of Hexagonal Tungsten Oxide Epitaxial Films Grown on YSZ Solid Electrolyte”, ACS Appl. Electron. Mater. XX, XXXX-XXXX (2021). (August 6, 2021) (DOI: 10.1021/acsaelm.1c00522)